Strona główna
Informacje ogólne
Pracownicy
Doktoranci
Historia
Publikacje
Seminarium
Informacje dla studentów
Linki

Raporty

  1. L. Dobrzyński, H. Kępa, A. Holas, A. Szkatuła, "Spectrometer WKSN-300 at the Pulsed IBR Reactor in Dubna (in Russian)", JINR Report No. 14-6577 (1972)
  2. W. Minor, B. Schönfeld, B. Lebech, B. Buras, W. Dmowski, "Crystallization of Metallic Glasses", Jahresbericht HASYLAB/DESY, 1983, p.125
  3. A.R. Lang, G. Kowalski, A.P.W. Makepeace, M. Moore, "Absorption edge eclipsing: an aid to diffuse reflection studies with white X-radiation", SRS Bulletin 6 (1985) 9-15
  4. T. Harasimowicz, G. Materlik, W. Sohler, H. Seibert, "Topographic Study of Lithium Niobate Single Crystals", HASYLAB Jahresbericht, DESY, Hamburg, 1989, p. 367
  5. T. Harasimowicz, Th. Gog, G. Materlik, W. Sohler, H. Seibert, "X-Ray Standing Wave Study of the Ti Location in LiNbO3", HASYLAB Jahresbericht, DESY, Hamburg, 1990, p. 419
  6. T. Harasimowicz, Th. Gog, G. Materlik, W. Sohler, H. Seibert, "Determination of the Location of Ti Atoms Diffused into Nearly Perfect Crystals of LiNbO3: An X-Ray Standing Wave Study", HASYLAB Jahresbericht, DESY, Hamburg, 1991, p. 367
  7. A. Hille, Th. Gog, T. Harasimowicz, G. Materlik, "Investigation of the Interface Geometry of RbF on Ge(100)2x1 and Rb on Ge(100)2x1 Employing the X-Ray Standing Wave Method", HASYLAB Jahresbericht, DESY, Hamburg, 1991, p. 371
  8. E. Zielińska-Rohozińska, "Mechanizmy tworzenia defektów w strukturach III-V niedopasowanych sieciowo", Prace ITME, "Inżynieria Materiałów Elektronicznych", II Seminarium zorganizowane pod patronatem KBN, raport syntetyczny, s. 41 (1998)
  9. M. Moore, M. Golshan, J. Reid, G. Kowalski, S.P. Collins, "Reciprocal space mapping of planar defects in diamond", CLRC Daresbury Laboratory Annual Report 1997-1998, p. 296-297 (1999)
  10. E. Zielińska-Rohozińska, J. Gronkowski, T. Słupiński, M. Regulska, "Badania kryształów GaAs metodami wysokorozdzielczej dyfrakcji promieni X", Prace ITME 56, "Wzrost i Charakteryzacja Kryształów", Sympozjum Naukowe,Katowice, 6-7 kwietnia 2000, s. 50-56
  11. I. Frymark, M. Lefeld-Sosnowska, "Rentgenowskie badania dyfrakcyjne domieszkowanych kryształów GaN", Prace ITME 56, "Wzrost i Charakteryzacja Kryształów", Sympozjum Naukowe,Katowice, 6-7 kwietnia 2000, s. 17-26
  12. J. Gronkowski, "Charakteryzacja defektów w kryształach metodami rentgenowskimi", Prace ITME 56, "Wzrost i Charakteryzacja Kryształów", Sympozjum Naukowe, Katowice, 6-7 kwietnia 2000, s. 27-40
  13. M. Lefeld-Sosnowska, "Dyfrakcyjne badania mikrodefektów", Prace ITME 56, "Wzrost i Charakteryzacja Kryształów", Sympozjum Naukowe, Katowice, 6-7 kwietnia 2000, s. 41-49
  14. M. Lefeld-Sosnowska, Z. Grygoruk, J. Borowski, J. Błażewicz, "Mikrodefekty w monokryształach Si i Si/Ge" Prace ITME 56, "Wzrost i Charakteryzacja Kryształów", Sympozjum Naukowe, Katowice, 6-7 kwietnia 2000, s. 57-66
  15. K. Wieteska, W. Wierzchowski, W. Graeff, M. Lefeld-Sosnowska, "Topographic studies of striations in Si:Ge crystals" HASYLAB Jahresbericht 2000, p. 891

Copyright © 2003 ZBS IFD UW